Ponte LCR Digitale di Precisione, Analizzatore di Impedenza dei Componenti da 10 Hz a 1 MHz

Panoramica del Prodotto

Questo ponte LCR digitale di precisione è un analizzatore avanzato di parametri di materiali e componenti elettronici, progettato secondo il principio del ponte ad auto-bilanciamento. Dotato di uno spettro di frequenza di test regolabile in continuo da 10 Hz a 1 MHz, una precisione di misura di base dello 0,05% e una risoluzione del display a 6,5 cifre, questo sistema offre una caratterizzazione dell'impedenza di livello metrologico. La sua architettura integra il controllo automatico del livello (ALC), lo sweep di lista multi-frequenza e il binning automatico per garantire un'acquisizione dati completa, ripetibile e ad alta risoluzione su tutti i parametri passivi fondamentali.

Progettato per ambienti ad alta richiesta, lo strumento funge da strumento analitico principale nella ricerca sui materiali avanzati, nella profilazione delle proprietà dielettriche, negli studi sull'impedenza degli elettrodi delle batterie e nella validazione dei componenti a semiconduttore. È altrettanto efficiente sulle linee di produzione automatizzate e nelle stazioni di controllo qualità in entrata (IQC), dove l'elevato throughput e la classificazione affidabile sono fondamentali. Il sistema colma il divario tra la capacità analitica di precisione da laboratorio e le esigenze della produzione industriale ad alta velocità.

Costruito con circuiti a stato solido di qualità industriale, impedenze della sorgente di segnale commutabili (30 Ω e 100 Ω) e routine complete di calibrazione aperto/corto/carico con correzione di frequenza a 256 punti, questa unità mantiene una stabilità di misura superiore. Anche in ambienti soggetti a rumore elettromagnetico e deriva termica operativa, l'apparecchiatura fornisce risultati stabili e riproducibili, rendendola una risorsa essenziale per i laboratori di ingegneria e i dipartimenti di controllo qualità.

Caratteristiche Principali

• Architettura Core a Ponte ad Auto-Bilanciamento: Offre un'eccezionale precisione di base dello 0,05% e una risoluzione di misura a 6,5 cifre su un ampio spettro di impedenza dinamica, garantendo l'esatta fedeltà dei dati per la ricerca e la produzione.
• Gamma di Frequenza a Banda Larga Continua: Offre una copertura di frequenza continua da 10 Hz fino a 1 MHz con risoluzione di 1 mHz e precisione di frequenza dello 0,01%, consentendo il tracciamento della risonanza a passi fini e la modellazione dei componenti dipendente dalla frequenza.
• Motore di Acquisizione ad Alto Throughput: Raggiunge velocità di acquisizione delle misure fino a 200 misure al secondo (a frequenze di test ≥1 kHz) e un ciclo rapido di 20 ms (a ≥100 Hz), facilitando l'integrazione senza soluzione di continuità in sistemi di smistamento automatico ad alta velocità.
• Caratterizzazione Multi-Parametro Completa: Valuta simultaneamente 20 diverse combinazioni di parametri, tra cui induttanza (Lp, Ls), capacità (Cp, Cs), resistenza (Rp, Rs), impedenza (|Z|, Xs), ammettenza (|Y|, G, B), angoli di fase (θr, θd), fattore di dissipazione (D) e fattore di qualità (Q).
• Capacità Integrate di Doppio Bias DC: Dispone di una sorgente di bias DC programmabile interna che fornisce un bias di tensione da -2V a +2V e un bias di corrente da -20mA a +20mA, oltre al supporto per ingressi di bias DC esterni fino a ±60V per test su semiconduttori attivi e dielettrici polarizzati.
• Controllo Automatico del Livello (ALC) Dinamico: Regola e stabilizza attivamente le tensioni (da 0 a 2 Vrms) e le correnti (da 100 μArms a 20 mArms) del segnale di eccitazione, prevenendo il sovraccarico del dispositivo in prova (DUT) e mantenendo livelli di pilotaggio costanti.
• Sweep di Lista Multi-Frequenza a 10 Punti: Esegue test sequenziali automatizzati su 10 passi di frequenza, tensione o corrente definiti dall'utente per catturare rapidamente curve di risposta dinamica e proprietà di dispersione di frequenza.
• Smistamento a 10 Bin e Comparatore Statistico: Dispone di un comparatore multicanale integrato con 8 bin di superamento, 1 bin di fallimento e 1 bin ausiliario, accoppiato al conteggio in tempo reale per semplificare la classificazione della qualità e il binning dei componenti.
• Interfaccia Vivida a 7 Pollici Bilingue: Dotata di un display TFT LCD 800×480 che supporta menu operativi sia in inglese che in cinese, offrendo letture chiare dei parametri, grafici a barre e un controllo operativo intuitivo.
• Array di Comunicazione Industriale Completo: Standardizzato con interfacce GPIB, Ethernet LAN, RS232C, USB Host, USB Device e Handler optoisolato per consentire l'automazione remota e la piena integrazione SCADA/PLC.

Applicazioni

Specifiche Tecniche

Perché Scegliere Questo Prodotto

• Ingegneria Metrologica di Precisione: Progettato con un core a ponte ad auto-bilanciamento che offre una precisione di misura di base dello 0,05% e 6,5 cifre di risoluzione, fornendo assoluta fiducia nei dati di livello commerciale e di ricerca.
• Scalabilità di Frequenza Completa: Disponibile in opzioni di larghezza di banda flessibili da 100 kHz fino a 1 MHz con risoluzione di 1 mHz, consentendo alle organizzazioni di selezionare l'intervallo di frequenza preciso su misura per il budget del laboratorio e i requisiti applicativi.
• Pronto per la Produzione Automatizzata: Con velocità di acquisizione che raggiungono 200 letture al secondo, smistamento hardware a 10 bin e connettività standard Handler/GPIB, questo sistema si integra facilmente nelle stazioni di test dei componenti ad alto volume.
• Controllo Completo del Bias DC e ALC: Il bias interno integrato, la capacità di bias esterno a 60V e il livellamento dinamico assicurano test stabili di semiconduttori sensibili, condensatori e componenti induttivi sotto stress operativi realistici.
• Supporto Affidabile a Lungo Termine: Supportato dall'esperienza tecnica di KINTEK nei test sui materiali e nella strumentazione di laboratorio, garantendo una guida applicativa reattiva, supporto per la calibrazione e affidabilità dell'hardware a lungo termine.

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